Технология изготовления интегральных микросхем (ТИИМС)
- Для комментирования войдите или зарегистрируйтесь
Выполним под заказ для микроэлектронщиков БГУИР ТИИМС курсовые и контрольные работы.
БАЗОВЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Методические указания и контрольные задания по дисциплине «Маршрутная технология интегральных
и больших гибридных интегральных схем, датчики и сенсорные устройства» (раздел «Базовые технологические процессы интегральных схем) для студентов специальности I-42 01 02 «Микро- и наноэлектроника, технологии и системы» заочной и дистанционной формы обучения
Минск 2007
Составитель: Ю. А. Родионов
6. КОНТРОЛЬНЫЕ ЗАДАНИЯ
Каждый студент выполняет контрольное задание состоящее описания одного технологического процесса, либо приема и и решения двух обратных технологических задач:
- По определению технологических режимов получения легированной методом термодиффузии пленки заданных параметров;
- По определению технологических режимов создания легированной методом ионной имплантации пленки заданных параметров.
При этом задается:
1. тип подложки, например КЭФ – 4,5; КДБ – 40; КЭС – 0,1 и т.д.
2. требуемая толщина пленки например 0,1 мкм; 0,3 мкм; 0,18 мкм и т.д. 3. поверхностное сопротивление пленки, например 10 Ом/кв; 40 Ом/кв и т.д.
По этим исходным данным требуется определить (рассчитать) технологический режим (температуру, длительность процесса, дозу облучения и т.д.)
Такие задачи являются стандартными для специалиста в области технологии кремниевых ИС и постоянно решаются линейными технологами и разработчиками в повседневной практике. Для облегчения решения таких учебных задач для студентов приводятся типовые примеры решения реальных инженерных задач и примеры оформления отчетов по этим задачам ([1] ЭУМК по дисциплине «Базовые технологические процессы для студентов специальности I - 4101 02.)
Каждый студент выполняет вариант контрольного задания, номер которого соответствует порядковому номеру фамилии студента в зачетной ведомости.
1. Описать технологический процесс
- Механическая резка слитка на пластины и шлифовка пластин
- Химико-механическая полировка пластин
- Обезжиривание поверхности пластин
- Полирующее химическое травление пластин
- Отмывка пластин после химобработок
- Плазмохимическое травление
- Высокотемпературное окисление кремния в сухом кислороде
- Высокотемпературное окисление кремния в цикле сухой- влажный- сухой кислород
- Пирогенное окисление кремния
- Механизмы термодиффузии в твердом теле
- Основные законы термодиффузии в твердом теле
- Основные технологические приемы проведения термодиффузии
- Технологический контроль диффузионного слоя
- Основные положения теории ионного легирования
- Эффект каналирования при ионном легировании
- Структура и принцип работы установки ионного легирования
- Технологический контроль имплантированных слоев
- Фотолитография на микрозазоре
- Проекционная фотолитография в глубоком ультрафиолете
- Электронно-лучевая литография
- Рентгеновская литография
- Магнетронное распыление металлов
- Электронно-лучевое распыление металлов
- Ионно-лучевое распыление металлов
- Многослойная металлизация
- Электромиграция в тонких пленках металлизации
2. Решить обратную задачу по термодиффузии
| Номер варианта | Тип подложки | Внедряемая примесь | Толщина диф. слоя | Поверхностное сопротивление ОМ/кв | Процесс | 
| 1 | КЭФ-4,5 | В | 0,1 | 40 | 2 стадии | 
| 2 | КЭФ-4,5 | В | 0,2 | 50 | 2 стадии | 
| 3 | КЭФ-10 | В | 0,3 | 60 | 2 стадии | 
| 4 | КЭФ-10 | В | 0,11 | 35 | 2 стадии | 
| 5 | КЭФ-20 | В | 0,12 | 48 | 2 стадии | 
| 6 | КЭФ-20 | В | 0,13 | 50 | 2 стадии | 
| 7 | КЭФ-40 | В | 0,14 | 41 | 2 стадии | 
| 8 | КЭФ-40 | В | 0,2 | 60 | 2 стадии | 
| 9 | КДБ-10 | Р | 0,1 | 40 | 2 стадии | 
| 10 | КДБ-10 | Р | 0,18 | 41 | 2 стадии | 
| 11 | КДБ-10 | Р | 0,15 | 38 | 2 стадии | 
| 12 | КДБ-20 | Р | 0,1 | 52 | 2 стадии | 
| 13 | КДБ-20 | As | 0,2 | 45 | 2 стадии | 
| 14 | КДБ-20 | As | 0,15 | 40 | 2 стадии | 
| 15 | КДБ-40 | As | 0,25 | 38 | 2 стадии | 
| 16 | КДБ-40 | As | 0,11 | 51 | 2 стадии | 
| 17 | КДБ-40 | As | 0,15 | 44 | 2 стадии | 
| 18 | КЭС-01 | B | 0,1 | 40 | 2 стадии | 
| 19 | КЭС-01 | B | 0,2 | 35 | 2 стадии | 
| 20 | КЭС-01 | B | 0,15 | 40 | 2 стадии | 
3. Решить обратную задачу по ионному легированию
| Номер варианта | Тип подложки | Примесь | Глубина имплантации | Поверхностное сопротивление ОМ/кв | 
| 1 | КЭФ-4,5 | В | 0,1 | 38 | 
| 2 | КЭФ-4,5 | В | 0,11 | 39 | 
| 3 | КЭФ-10 | В | 0,12 | 40 | 
| 4 | КЭФ-10 | В | 0,13 | 41 | 
| 5 | КЭФ-20 | В | 0,14 | 42 | 
| 6 | КЭФ-20 | В | 0,15 | 43 | 
| 7 | КДБ-10 | P | 0,1 | 44 | 
| 8 | КДБ-10 | Р | 0,12 | 45 | 
| 9 | КДБ-10 | AS | 0,11 | 38 | 
| 10 | КДБ-40 | AS | 0,13 | 40 | 
| 11 | КДБ-40 | AS | 0,14 | 41 | 
| 12 | КДБ-40 | Р | 0,15 | 38 | 
| 13 | КДБ-40 | P | 0,1 | 39 | 
| 14 | КДБ-40 | P | 0,11 | 40 | 
| 15 | КДБ-20 | P | 0,15 | 42 | 
| 16 | КДБ-20 | P | 0,14 | 38 | 
| 17 | КДБ-20 | P | 0,12 | 40 | 
| 18 | КЭС-0,1 | В | 0,1 | 40 | 
| 19 | КЭС-0,1 | В | 0,11 | 41 | 
| 20 | КЭС-0,1 | В | 0,12 | 42 | 






 Пн - Вскр 900-2200
 Пн - Вскр 900-2200 39-58-68-649
 39-58-68-649 bovaliservice
 bovaliservice 
  +375 29 2560343
+375 29 2560343